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激光測量設備

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VFI 光纖端面干涉儀
VFI 光纖端面干涉儀可測量大多數標準和特種光纖，包括保偏光纖和空芯光纖。VFI 光纖端面干涉儀在研究、生產和質量保證領域已得到反復驗證。

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雙頻激光干涉儀
雙頻激光干涉儀HPI-3D是市場上的高性能激光干涉儀之一。作為雙頻外差系統，它的測量精度和分辨率為用戶提供了大量新的選擇。非常容易使用，它既可以應用于研究實驗室，也可以用于機器幾何測量。精確的機器校準對于提供高質量的產品至關重要。使用我們的系統，您可以快速、輕松地進行精確的校準。基本配置能夠進行線性位移、振動、速度和定位的測量。

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直接激光干涉圖形加工器
直接激光干涉圖形加工器可以利用脈沖激光簡便地、高速地在大范圍區域形成周期性幾何形狀從而直接燒蝕材料表面。

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激光剪切散斑干涉系統——NDT無損檢測
激光剪切散斑干涉系統——NDT無損檢測是所有的光學模組和激光器集成在一個手持式，耐用和輕便的機殼中，接通電源，通過USB連接到電腦，就可以開始檢測了。

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光纖法布里-珀luo干涉儀
光纖法布里-珀luo干涉儀系列產品基于具有平滑、均勻間隔傳輸峰的固定干涉儀設計。FFP 的設計簡潔優雅的關鍵在于其無透鏡全光纖結構。沒有準直光學器件或透鏡，消除了其他法布里-珀羅元件技術的缺陷，包括未對準、環境敏感性和外來模式。FFP 波器遵循 Airy 函數。工程師可以將其設計到 OEM 系統中，因為他們知道它將提供非常接近理論數學模型的結果。

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皮米級絕對距離測量干涉儀
皮米級絕對距離測量干涉儀通過將可調激光器的頻率鎖定到F-P干涉儀的的諧振頻率上，將干涉儀的位移測量轉換為頻率變化的測量。當F-P腔長在變化時，其諧振峰的頻率也在發生變化，通過測量初始腔長，初始頻率和頻率變化，就可實現測量腔長。

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多波長動態干涉儀
Kaleo MultiWAVE多波長動態干涉儀同時可提供媲美Fizeau干涉儀測量精度，及動態干涉儀的抗震性能。

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太赫茲掃描干涉儀
太赫茲掃描干涉儀主要用于測量窄帶太赫茲輻射的波長和強度分布，同時也可用于脈沖和連續窄帶太赫茲輻射源。TSFPI由兩個半透明平行硅鏡組成，其中一個安裝在電機驅動的線性致動器上。

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KALEO法國Phasics多波長激光干涉儀模塊
KALEO套件多波長激光干涉儀模塊是用于光學計量的模塊化系統。它由多種相互兼容的模塊組合而成，可讓用戶搭建一個經濟有效，體積緊湊且易于使用的完整光學測試系統。法國Phasics多波長激光干涉儀模塊

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點衍射激光干涉儀
點衍射激光干涉儀: 絕對測量精度(Peak-to-valley): ± 0.6 nm (λ/1000) 分辨率(Peak-to-valley): 0.05 nm (λ/12000) 波前重復精度(RMS): 0.23 nm (λ/2800)

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半導體/薄膜無損檢測儀
半導體/薄膜無損檢測儀：半導體行業為我們周圍遇到的大多數電子設備提供了基本組件。它的制造需要在硅晶片上進行多次薄膜沉積，。

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綜合電子測量分析儀（十二功能合一）
綜合電子測量分析儀（十二功能合一）可讓您觀察DC到250 MHz之間頻域中的輸入信號。在100Hz的zui小跨度下，同時查看分辨率低至1 Hz的兩個數據通道。頻譜分析儀還具有兩個集成的波形發生器，能夠產生高達250 MHz的正弦波。

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